低氣壓試驗(yàn)箱主要用于航空、航天、信息、電子等領(lǐng)域，確定儀器儀表、電工產(chǎn)品、材料、零部件、設(shè)備在低氣壓、高溫、低溫單項(xiàng)或同時(shí)作用下的環(huán)境適應(yīng)性與可靠性試驗(yàn)成，試驗(yàn)產(chǎn)品在低氣壓、高溫、低溫單項(xiàng)或同時(shí)作用下的環(huán)境適應(yīng)性與可靠性試驗(yàn)，并或同時(shí)對(duì)試件通電進(jìn)行電氣性能參數(shù)的測(cè)量。

　　參照標(biāo)準(zhǔn)

　　GB11159-89 低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件;

　　GB10590-89 低溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件;

　　GB/T2423.25-1992 低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)箱;

　　GB15091-89 高溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件;

　　GJB150.2-86 低溫/低氣壓(高度)試驗(yàn);

　　GB/T2423.26-1992 高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)箱;

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