1、 GB/T10589-2006 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 2、GB/T11158-2006 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 3、GB/T10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 4、GB/T 2423.1-2001 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法 5、GB/T 2423.2-2001 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法 6、GJB 150.3A-2009高溫試驗(yàn) 7、GJB 150.4A-2009低溫試驗(yàn) 8、GJB150.*-2009 軍用設(shè)備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 9、GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)鑒定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備 10GB/T 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化 |